摘要: 本文将测量液晶介电系数ε的磁场法改进为半电压测量法。避开直接测量ε_∥和ε_⊥,而是通过测量ε_(45°)之值推算出ε_∥与ε_⊥。测量所需的液晶用量为磁场法的1/5,且在较弱的磁场下,即能获得较高的准确度。