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3σ方法在磁记忆检测中的应用
李光霁
,
孙国豪
,
潘家祯
Application of the 3σ Method in Magnetic Memory Testing
LI Guang-ji
,
SUN Guo-hao
,
PAN Jia-zhen
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通过对带有已知预制裂纹试块的检测曲线进行分析,提出了一种评定应力集中的方法--3σ方法.如果x服从正态分布,式μ=x±3σ具有概率含义:测定结果x落在(μ-3σ,μ 3σ)区间的概率为99.73%,概率不随σ的改变而改变.如果磁场强度变化曲线在(|μ-3σ |, ∞)内,就认为此部位有应力集中.3σ方法更加符合统计学规律,对缺陷的判断也更符合实际情况.
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