摘要: 通过ＩＲ，Ｘ－射线衍射分别研究了复合纳滤膜致密层的化学结构及其与性能的关系。采用扫描电镜（ＳＥＭ）和原子力显微镜（ＡＦＭ）分别对膜的断面、表面形态作了研究。